光谱磁光旋光度测量系统专为测量波长385nm至845nm范围内的法拉第旋转角而设计。该设备可以精确测量法拉第旋转的磁场依赖性。该设备的工作原理基于旋转分析仪方法。极隙12mm时可产生最大15,000 高斯的磁场。光学旋转测量分辨率为 ±0.01 度。
特点: 灵活且适应性强的光学布局 385-845nm 测量范围 0.01度光学旋转分辨率 全自动控制选项 磁场检测传感器 磁场反馈装置
它专为测量波长385nm至845nm范围内的法拉第旋转角而设计。该设备可以精确测量法拉第旋转的磁场依赖性。该设备的工作原理基于旋转分析仪方法。极隙12mm时可产生最大15,000 高斯的磁场。光学旋转测量分辨率为 ±0.01 度。
通过使用可选设备,还可以测量热依赖性。由于它可以设计为安装加热室和低温恒温器,因此可以评估-70至300°C范围内的热依赖性。该软件允许用户控制样品温度和磁场。
性能: 旋光度测量分辨率: 0.01度(透明度大于20%) 检测灵敏度:0.005度 旋光度测量范围:±90度 测量波长范围:385nm -845nm 光谱带宽:1nm(可变通带高达10nm) 最大磁场:12mm极隙时15,000高斯 最小磁场检测:1高斯 磁场精度:±0.05%
应用: 具有法拉第效应的薄膜、晶体、流体等的光旋度测量 透明固体和液体的维尔德常数测量 磁场vs.所需波长下的法拉第旋转角 法拉第旋转角vs.波长色散 法拉第旋转角与热依赖性(可选功能)
规格: 光源:Spectra 20W 石英卤素灯 偏振分析方法:旋转分析方法 比色皿:10mm光程长度玻璃比色皿(可根据要求提供定制支架) 样品腔室选项:高/低温样品架 样品移动台:X、Y 和Z轴定位器 行程:X、Y 和 Z(±5mm) 定位分辨率:10 微米 角度分辨率:0.1 度 电磁铁单元:PC 控制恒流操作 冷却:水冷 最大磁场:12mm 极距时1.5 特斯拉 最小磁场检测:1 高斯 磁场检测:基于霍尔探头(基于 PC的磁场测量) 磁场反馈:作为霍尔元件的传感器反馈 冷却器:5~25°C 冷却水(用于冷却电磁铁) 电磁铁电源:双极型(最大 ±90V/5A) 电磁铁电源:2kVA AC220V 50Hz 控制单元:1kVA AC220V 50Hz 软件:Spectra ORMS 软件
温度控制选项: 型号 : HC 300 样品加热室从室温加热至 300°C,用于测量温度依赖性。 通过加热器,范围从室温到 300°C,PID 热控制 设置分辨率:0.1°C 热传感器:Pt 100 欧姆
型号 : NC 70 低温样品架(氮气低温恒温器) 通过液氮将样品冷却至 -70°C 的腔室。 设置分辨率:1°C 热传感器:Pt 100 欧姆
型号: TE 20 加热/冷却方法:TE 冷却器 温度范围,-20 至 40°C 热控制方法:PID 控制 热稳定性:±0.1℃ 当设备上安装选件时,最大磁场可能会降低。 可提供定制磁光系统。 可提供特殊样品台,以便样品在垂直和水平轴上精确移动