光谱磁光旋光度测量系统(法拉第效应测量)

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光谱磁光旋光度测量系统专为测量波长385nm至845nm范围内的法拉第旋转角而设计。该设备可以精确测量法拉第旋转的磁场依赖性。该设备的工作原理基于旋转分析仪方法。极隙12mm时可产生最大15,000 高斯的磁场。光学旋转测量分辨率为 ±0.01 度。

特点:
灵活且适应性强的光学布局
385-845nm 测量范围
0.01度光学旋转分辨率
全自动控制选项
磁场检测传感器
磁场反馈装置

 

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产品详情

它专为测量波长385nm至845nm范围内的法拉第旋转角而设计。该设备可以精确测量法拉第旋转的磁场依赖性。该设备的工作原理基于旋转分析仪方法。极隙12mm时可产生最大15,000 高斯的磁场。光学旋转测量分辨率为 ±0.01 度。

通过使用可选设备,还可以测量热依赖性。由于它可以设计为安装加热室和低温恒温器,因此可以评估-70至300°C范围内的热依赖性。该软件允许用户控制样品温度和磁场。

性能:
旋光度测量分辨率: 0.01度(透明度大于20%)
检测灵敏度:0.005度
旋光度测量范围:±90度
测量波长范围:385nm -845nm
光谱带宽:1nm(可变通带高达10nm)
最大磁场:12mm极隙时15,000高斯
最小磁场检测:1高斯
磁场精度:±0.05%

应用:
具有法拉第效应的薄膜、晶体、流体等的光旋度测量
透明固体和液体的维尔德常数测量
磁场vs.所需波长下的法拉第旋转角
法拉第旋转角vs.波长色散
法拉第旋转角与热依赖性(可选功能)

规格:
光源:Spectra 20W 石英卤素灯
偏振分析方法:旋转分析方法
比色皿:10mm光程长度玻璃比色皿(可根据要求提供定制支架)
样品腔室选项:高/低温样品架
样品移动台:X、Y 和Z轴定位器
行程:X、Y 和 Z(±5mm)
定位分辨率:10 微米
角度分辨率:0.1 度
电磁铁单元:PC 控制恒流操作
冷却:水冷
最大磁场:12mm 极距时1.5 特斯拉
最小磁场检测:1 高斯
磁场检测:基于霍尔探头(基于 PC的磁场测量)
磁场反馈:作为霍尔元件的传感器反馈
冷却器:5~25°C 冷却水(用于冷却电磁铁)
电磁铁电源:双极型(最大 ±90V/5A)
电磁铁电源:2kVA AC220V 50Hz
控制单元:1kVA AC220V 50Hz
软件:Spectra ORMS 软件

温度控制选项:
型号 : HC 300
样品加热室从室温加热至 300°C,用于测量温度依赖性。
通过加热器,范围从室温到 300°C,PID 热控制
设置分辨率:0.1°C
热传感器:Pt 100 欧姆

型号 : NC 70
低温样品架(氮气低温恒温器)
通过液氮将样品冷却至 -70°C 的腔室。
设置分辨率:1°C
热传感器:Pt 100 欧姆

型号: TE 20
加热/冷却方法:TE 冷却器
温度范围,-20 至 40°C
热控制方法:PID 控制
热稳定性:±0.1℃
当设备上安装选件时,最大磁场可能会降低。
可提供定制磁光系统。
可提供特殊样品台,以便样品在垂直和水平轴上精确移动

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